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NX9000

SISTEMA FIB-SEM ETHOS DE COMPOSICIÓN DE ALTO RENDIMIENTO

Emisión de campo de cátodo frio

Voltaje de aceleración 0.1 a 30 kV

SEM: Resolución 1,5 nm (1kV), 0,7 nm a 15 kV

FIB OPTICAL SYSTEM: Resolución 4.0 nm (30 kV)

NX9000

FIB-SEM NX9000 para analisis 3D en tiempo real

Bombardeo ionico y observación en tiempo real

Cortar y ver . 3D-EDS . 3D-EBSD (opciones)

Voltaje de aceleracion 0.1 (SEM)/0.5(FIB) - 30 kV

SEM : Resolucion 2.1 nm a 1kV / 1.6 nm a 15 kV

FIB: Resolucion 4.0 nm a 30 kV

Hybrid FIB-SEM System NX2000

FIB-SEM NX2000 Hibrido

La herramienta definitiva para preparación de muestras TEM

Alto contraste, SEM tiempo real y punto de detección permite realizar muestras ultra delgadas de menos de 20 nm

Efectos anti-cortina (funcion ACE) y laminas finas uniformes

ht7700

HT-7800 TEM de 120 kV

Con tecnología de Doble Lente Gap de Hitachi

Opera en la habitación bajo luz normal gracias a us camara HD

Stage de alta precisión con ángulo de Tilt de +/-70°

h9500

H-9500 TEM de 300 kV digital

Filamento LaB6

Goniómetro eucéntrico de 5 ejes

CCD integrada

0.1 nm (lattice) / 0.18 nm (point to point)

hf3300

HF-3300 Holography FE-TEM de 300 kV digital

Goniómetro eucéntrico de 5 ejes

CCD integrada

0.1 nm (lattice) / 0.19 nm (point to point)

hd2700

HD-2700 STEM dedicado de 200 kV con corrector Cs

0.136 nm @ 200 Kv

Imagen SE y STEM

Observación simultanea de imagen STEM y patrón de difracción

Brazo de rotación para análisis 3D

Alta sensitividad para análisis EDX

fb2200

FB-2200 FIB

10 a 40 Kv

Corriente de haz hasta 60 nA a 40 kV

Daño de la muestra minimizado

Portamuestras compatible con TEM y SEM

Amplio rango de energías para el haz

nb5000

NB5000 FIB-SEM

FIB

10 a 40 kV

Corriente de haz hasta 80 nA

Observación simultanea de imagen durante el proceso de devastado

Brazo de rotación para análisis 3D

SEM

0-30 Kv

Filamento Schottky

Corriente de haz superior a 30 nA

Doble stage para SEM y STEM

 

 

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Dirección: C/ Santa Leonor 63, 2º H C.P. 28037 Ciudad: Madrid (España) Telf. (+34) 91 326 74 97 Fax: (+34) 91 326 76 08 E-mail: mi2@monocomp-instrumentacion.com

optimizada para 1280x1024 ó 1920x1080 pixels

 

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