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TM3000

TM4000 y TM4000 plus Tabletop SEM

5, 10 y 15 kV

Hasta 100.000 aumentos

Detector de secundarios de bajo vacío en el TM4000 plus

Diseño aún más compacto y fácil utilización

Mejor rango de contraste

Observación de muestras no conductoras sin metalización

QUANTAX EDX

AZTEC SERIES EDX

Muestras de hasta 80mm de diametro y 50mm de alto

Diponible ejes motorizados y Camera Navi

 

TM3000

Scanning Electron Microscope FlexSEM 1000

Microscopio electrónico de barrido compacto de presion variable facil de usar el cual para su instalación solo requiere de una toma de red eléctrica convencional

0,3 a 30 kV

6 a 100 Pa

Sensores SE y BSE

 

su1510

SU1510 SEM analítico de presión variable y tamaño reducido

0-30 kV

SE 3 nm @ 30Kv / BSE  6 nm @ 30 Kv (6Pa)

Modos de trabajo de alto y bajo vacío hasta 270 Pa

X: 0-80 mm

Y: 0-40 mm

Z:  5-50 mm

Admite muestras de hasta 153 mm de diámetro y 60 mm de altura

SU3500

SU3500 SEM analítico de presión variable

0-30 kV

Resolución en SE: 3 nm @ 30Kv / 7 nm @ 3 Kv

Resolución en BSE: 4 nm @ 30Kv / 10 nm @ 5 Kv

Modos de trabajo de alto y bajo vacío hasta 650 Pa

X: 0-100 mm

Y: 0-50 mm

Z:  5-65 mm

Admite muestras de hasta 200 mm de diámetro y 80 mm de altura

s3700n

S-3700N SEM analítico de presión variable con cámara grande

0-30 kV

3 nm @ 30Kv / 10 nm @ 3 Kv

Modos de trabajo de alto y bajo vacío hasta 270 Pa

X: 0-150 mm

Y: 0-110 mm

Z:  5-65 mm

Admite muestras de hasta 300 mm de diámetro y 110 mm de altura

 

 

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Dirección: C/ Santa Leonor 63, 2º H C.P. 28037 Ciudad: Madrid (España) Telf. (+34) 91 326 74 97 Fax: (+34) 91 326 76 08 E-mail: mi2@monocomp-instrumentacion.com

optimizada para 1280x1024 ó 1920x1080 pixels

 

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