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afm

AFM5100N Microscopio de fuerzas atómicas

Método de detección: autodetección (palanca óptica)

Tamaño de muestra: máximo 35mmφ, grosor 10mm

Rango de escaneo: 150x150um (X,Y), 15um (Z)

Medición: modo DFM (fuerza dinámica) o PM (fase)

5300

AFM5300E Microscopio de fuerzas atómicas con control del entorno

Método de detección: palanca óptica

Tamaño de muestra: 25umφ, grosor 10mm

Rango de escaneo: 150x150um (X,Y), 15um (Z)

Control de ambiente: vacío, aire, líquidos, humedad, temperatura

5000

AFM5000 controlador

Imagen superpuesta (forma y propiedades)

Mediciones automáticas

Función 3D

Analisis de rugosidades, sección y hasta cuatro secciones simultaneas

Función de evaliación de sonda y de editor de línea

Sistema operativo: Windows 7

afm5000ii

AFM5000II controlador

Función de ajuste de parámetros de medición automática

Ajuste automático de amplitud, fuerza de contracción, velocidade de escaneo y ganancias de retorno

Medición con un clic

Software de análisis con: pantalla 3D, rugosidad, sección y media de secciones

Calibración de la punta

 

 

 

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Dirección: C/ Santa Leonor 63, 2º H C.P. 28037 Ciudad: Madrid (España) Telf. (+34) 91 326 74 97 Fax: (+34) 91 326 76 08 E-mail: mi2@monocomp-instrumentacion.com

optimizada para 1280x1024 ó 1920x1080 pixels

 

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